手持式超聲波測厚儀適合測量金屬(鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度，具有兩種測厚模式：發射-回波模式和回波-回波模式，可以穿透涂層進行厚度測量而不計入涂層厚度。具有探頭零點校準、兩點校準功能，可對系統誤差進行自動修正。已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度，具有耦合狀態提示功能。有背光顯示，方便在光線昏暗環境中使用。自動休眠、自動關機，帶有USB接口，可以方便、快捷地與PC機進行數據交換。可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。